布魯克 X 射線熒光光譜儀簡介

布魯克 X 射線熒光光譜儀（Bruker X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱 XRF）是一種基于 X 射線熒光原理的高精度元素分析儀器。它以其高靈敏度、非破壞性和多元素同步分析的特點，廣泛應用于工業(yè)、科研和質量控制領域。

原理概述

X 射線熒光光譜儀通過向樣品發(fā)射高能 X 射線，激發(fā)樣品中的原子。被激發(fā)的原子通過釋放特征熒光 X 射線返回穩(wěn)定狀態(tài)。每種元素的熒光信號具有特定的能量和波長，通過檢測這些信號，儀器能夠精準地識別樣品中的元素種類及其含量。

布魯克 XRF 的核心特點

1. 高靈敏度與寬元素覆蓋范圍

• 檢測范圍從輕元素（鈹 Be）到重元素（镅 Am），可覆蓋周期表的大部分元素。

• 檢出限低至 ppm 級，適用于微量和痕量分析。

2. 非破壞性分析

• 無需對樣品進行化學處理，樣品結構和形態(tài)不會受到破壞，適用于貴重樣品的分析。

3. 多元素同時檢測

• 一次掃描即可同時檢測樣品中多種元素，顯著提升檢測效率。

4. 樣品適配性強

• 能夠分析固體、粉末、液體和薄膜等多種樣品形態(tài)，無需復雜的制備步驟。

5. 定量與定性分析功能

• 可實現高精度的元素定量分析，同時支持未知樣品的定性篩查。

布魯克 XRF 的技術優(yōu)勢

1. HighSense 光路技術

• 提升檢測靈敏度和精準度，尤其是對輕元素（如鋁、鎂）的分析。

2. XRF2 微區(qū)分析功能

• 光斑尺寸最小可達 300 µm，適用于樣品的元素分布研究和缺陷分析。

3. 自動化與智能化操作

• 直觀的 TouchControl 界面和 EasyLoad 樣品處理系統，支持批量樣品自動化分析。

4. 長壽命與低維護成本

• SampleCare 技術保護關鍵部件免受污染，延長設備運行時間，降低維護頻率。

布魯克 XRF 的應用領域

1. 工業(yè)與質量控制

• 礦物與地質：檢測礦石中主量和微量元素的含量。

• 金屬與合金：分析金屬成分、涂層厚度以及雜質。

• 水泥與化工：控制生產中氧化物和微量元素的精確配比。

2. 科研與材料研究

• 聚合物與納米材料：分析添加劑及元素分布。

• 古生物學與地球科學：研究化石、巖石等樣品中的微區(qū)元素分布。

3. 環(huán)境與能源

• 石油化工：分析油品、潤滑劑中的微量元素。

• 環(huán)保監(jiān)測：快速檢測重金屬污染物。

布魯克 XRF 的常見型號

1. S8 TIGER

• 高性能波長色散 XRF（WDXRF），支持精密定量分析和微區(qū)掃描功能。

• 配備 HighSense 技術，實現輕元素高靈敏度檢測。

2. S2 PUMA

• 能量色散 XRF（EDXRF），適用于快速、多元素的定量分析，特別適合高通量應用。

優(yōu)勢總結

布魯克 X 射線熒光光譜儀以其高效、精準、多功能的特點，廣泛應用于科學研究和工業(yè)生產中。其核心優(yōu)勢包括：

• 廣泛適用性：從輕元素到重元素，從固體到液體樣品，適配性強。

• 高效檢測：多元素同步分析，降低檢測時間。

• 高可靠性：長期穩(wěn)定運行，減少維護需求。

布魯克 XRF 是現代實驗室和生產質量控制的關鍵工具，為材料成分分析提供可靠保障。